Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective | Eugene R Hnatek | Energie | 9780442006433 | Standaard Boekhandel

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
Gratis thuislevering in België vanaf € 30
Ruim aanbod met 7 miljoen producten

Zoeken

Lezen

Leren

Geven

Beleven

Jonge gezinnen

Alle producten

Onze boekenbon

Alle promoties

Volg ons op

Wist je dat er in Vlaanderen voor iedereen een Standaard Boekhandel is binnen een straal van 7 km?

Zoek een winkel

€ 167,95

+ 335 punten

Levering 2 à 3 weken

Eenvoudig bestellen

Veilig betalen

Gratis thuislevering vanaf € 30 (via bpost)

Gratis levering in je Standaard Boekhandel

Omschrijving

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a

Specificaties

Betrokkenen

Auteur(s):

Uitgeverij:

Inhoud

Aantal bladzijden:: 180

Taal:: Engels

Reeks:

Eigenschappen

Productcode (EAN):: 9780442006433

Verschijningsdatum:: 31/08/1993

Uitvoering:: Hardcover

Bestandsformaat:: Genaaid

Afmetingen:: 158 mm x 247 mm

Gewicht:: 476 g

Standaard Boekhandel

Alleen bij Standaard Boekhandel

+ 335 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel

MUST-HAVES

Nu dubbele punten op onze selectie nieuwe titels

MUST-HAVES

CADEAU

bij aankoop van minimum € 30 uit onze communieselectie

CADEAU

E-BOOK ACTIE

op een selectie e-books

E-BOOK ACTIE

Standaard Boekhandel

Beoordelingen

We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.