- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
- Afhalen na 1 uur in een winkel met voorraad
- Gratis thuislevering in België vanaf € 30
- Ruim aanbod met 7 miljoen producten
Omschrijving
This book covers the fundamentals of Helium Ion Microscopy (HIM) including the Gas Field Ion Source (GFIS), column and contrast formation. It also provides first hand information on nanofabrication and high resolution imaging. Relevant theoretical models and the existing simulation approaches are discussed in an extra section. The structure of the book allows the novice to get acquainted with the specifics of the technique needed to understand the more applied chapters in the second half of the volume. The expert reader will find a complete reference of the technique covering all important applications in several chapters written by the leading experts in the field. This includes imaging of biological samples, resist and precursor based nanofabrication, applications in semiconductor industry, using Helium as well as Neon and many more. The fundamental part allows the regular HIM user to deepen his understanding of the method. A final chapter by Bill Ward, one of the pioneers of HIM, covering the historical developments leading to the existing tool complements the content.
Specificaties
Betrokkenen
- Uitgeverij:
Inhoud
- Aantal bladzijden:
- 526
- Taal:
- Engels
- Reeks:
Eigenschappen
- Productcode (EAN):
- 9783319824734
- Verschijningsdatum:
- 16/06/2018
- Uitvoering:
- Paperback
- Bestandsformaat:
- Trade paperback (VS)
- Afmetingen:
- 156 mm x 234 mm
- Gewicht:
- 762 g
Alleen bij Standaard Boekhandel
+ 485 punten op je klantenkaart van Standaard Boekhandel
MUST-HAVES
AANGERADEN
VADERDAG ACTIE
Beoordelingen
We publiceren alleen reviews die voldoen aan de voorwaarden voor reviews. Bekijk onze voorwaarden voor reviews.