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Cet ouvrage est destiné aux étudiants de 3e année de Licence
et de Master de Physique, Chimie et Sciences de la Terre, ainsi
qu'aux élèves des écoles d'ingénieurs.
Le manuel introduit les principes de base de la cristallographie
géométrique, par l'étude des réseaux, des opérations de symétrie,
du dénombrement et de la construction des groupes ponctuels
et des groupes d'espace. L'ouvrage se consacre aussi à la
radiocristallographie en décrivant la production des rayons X
et leurs propriétés, avec l'étude de la diffraction. Des applications
et des exercices corrigés illustrent les points importants du cours.
Cette 3e édition, entièrement actualisée, est enrichie d'un
nouveau chapitre sur les nouvelles techniques de détermination
des structures cristallines comme la réflectométrie X et les
détecteurs utilisés dans le domaine des nanotechnologies.
Un atlas des formes cristallographiques est proposé sur le web,
ainsi qu'un programme de visualisation et de simulation.
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